Chroma 19501 - K局部放電測試器內建交流 耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(Partial D i s c h a r g e, P D) 偵測功能于一單機， 提供 交 流 電 壓 輸 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏 電 流 測 量范 圍 0 . 0 1 μ A ~ 3 0 0 μ A ， 局 部 放 電 偵 測 范 圍 1pC~2000pC，針對高壓半導體元件與高絕緣材 料測試應用所設計與開發。

　　Chroma 19501-K局部放電測試器產品設計符 合IEC60270-1法規，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrow- band) 量測技術進行PD放電量測量，并將量測 結果以直觀數值 (pC) 顯示在熒幕上讓使用者清 楚明了待測物測試判定結果。

　　產品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規要求，內建IEC60747-5-5法規之測試方法于儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供使 用者便利的操作界面。

　　于生產線上執行高壓測試時，如果待測物未能正 確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至發生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。Chroma獨特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之 元件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測 試有效性與生產效率。

　　在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態下，由于較高的電場強度集中于氣隙而產生局部放電 (Partial Discharge), 持續性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影 響電氣產品之長久信賴性，而引起安全事故。

　　應用于電源系統之安規元件，如光耦合器，因考 量如果元件長時間發生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發生絕緣失效的情況，進而引發使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規中提 及，于生產過程中 (Routine test) 必須100%執行 局部放電 (Partial discharge) 檢測，在最大絕緣 電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正 常工作環境中不會發生局部放電現象。

　　局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之元件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產品質量與提升產品可靠度。